Сотрудничаем со строительными организациями, архитекторами и проектировщиками, ЛПУ санаториями. Быстрая обработка запроса. Выделяем персонального менеджера для работы с Вашим проектом.
- Артикул:317601
- 0
- Регистрационное удостоверение:Да
- Показать все характеристики
Лабораторные микроскопы серии Eclipse L
Микроскопы данной серии обеспечивают наиболее точную экспертизу новейших видов полупроводниковых пластин, благодаря самым передовым оптическим разработкам Nikon.
Промышленные микроскопы Nikon Eclipse L300N / L300ND, используя систему CFI60 Nikon, которая обеспечивает наивысший уровень оптических характеристик, идеальны для экспертизы полупроводниковых пластин и электролюминесцентных субстратов размером до 300 мм, в том числе и в режиме эпифлуоресценции.
Категория: прямые микроскопы
Методы исследования: светлое поле, темное поле, простая поляризация, ДИК, эпифлуоресценция
Области применения: телекоммуникации и электроника, полупроводниковые пластины, телескопическая оптика, мобильные телефоны, электробритвы и часы.
Микроскопы данной серии обеспечивают наиболее точную экспертизу новейших видов полупроводниковых пластин, благодаря самым передовым оптическим разработкам Nikon.
Промышленные микроскопы Nikon Eclipse L300N / L300ND, используя систему CFI60 Nikon, которая обеспечивает наивысший уровень оптических характеристик, идеальны для экспертизы полупроводниковых пластин и электролюминесцентных субстратов размером до 300 мм, в том числе и в режиме эпифлуоресценции.
Категория: прямые микроскопы
Методы исследования: светлое поле, темное поле, простая поляризация, ДИК, эпифлуоресценция
Области применения: телекоммуникации и электроника, полупроводниковые пластины, телескопическая оптика, мобильные телефоны, электробритвы и часы.
| Характеристики | |
| Регистрационное удостоверение | Да |