ЦЕНА ПО ЗАПРОСУ
Оснащаем под ключ!

Сотрудничаем со строительными организациями, архитекторами и проектировщиками, ЛПУ санаториями. Быстрая обработка запроса. Выделяем персонального менеджера для работы с Вашим проектом.

Ключевые характеристики

Предназначен для получения изображения микрогеометрии поверхности объектов, в основе которого лежит метод двухлучевой интерференции света. Интерференционную картину можно наблюдать как в белом, так и в монохроматическом свете.

Измерение параметров шероховатости полированных и доведенных поверхностей, а также толщин пленок по высоте уступов, образованных краем пленки, производят с помощью винтового окулярного микрометра МОВ-1-16х или фотоэлектрического окулярного микрометра ФОМ-2-16х* с автоматической обработкой результатов измерений.

Отличительные особенности:
  • Использование микроинтерферометра в сочетании с фотоэлектрическим окулярным микрометром позволяет повысить точность измерения параметров шероховатости в два раза и производительность процесса измерения в 10-15 раз.
  •  В качестве источника света в микроинтерферометре используется светодиод белого свечения, который обеспечивает наилучший контраст и яркость интерференционных полос, а также высокую чувствительность метода и стабильность интерференционной картины.
  •  Низкое питающее напряжение светодиода, отсутствие нагрева и высоких пусковых напряжений, а также отсутствие хрупких элементов гарантируют высокий уровень безопасности при эксплуатации.
Области применения:
  • Машиностроительная промышленность.
  •  Научно-исследовательская деятельность институтов, занимающихся вопросами качества поверхностей.
Характеристики:

Диапазон измерения параметров шероховатости Rmax, Rz и толщины пленок, мкм0,1 - 0,8
Видимое увеличение микроскопа, крат500х
Линейное поле зрения в пространстве предмета, мм0,3

Характеристики
Регистрационное удостоверение Да

Похожие товары