Сотрудничаем со строительными организациями, архитекторами и проектировщиками, ЛПУ санаториями. Быстрая обработка запроса. Выделяем персонального менеджера для работы с Вашим проектом.
- Артикул:316654
- 0
- Размер изображения:до 6144 x 4096 пикселей
- Регистрационное удостоверение:Да
- Тип микроскопа:cканирующий
- Формат изображения:TIFF (8, 16, 24-битный), BMP или JPEG
- Показать все характеристики
Ключевые характеристики
Сканирующий электронный микроскоп Verios обеспечивает субнанометровое разрешение в диапазоне ускоряющих напряжений 1–30 кВ и высочайшую контрастность изображения.
Его непревзойденная работа при низких ускоряющих напряжениях обеспечивает получение точных данных о структуре поверхности, недоступных при использовании других методов. Максимальная разрешающая способность достигает 0.6 нм.
Микроскоп Verios абсолютно незаменим при производстве полупроводников и устройств хранения данных. Существенно расширяя возможности стандартных SEM, этот прибор позволяет работать с нано-узлами, что превращает его в комплексное решение для теоретических исследований, управления технологическими процессами, создания материалов, задач фрактографии, анализа дефектов.
Характеристики
Сканирующий электронный микроскоп Verios обеспечивает субнанометровое разрешение в диапазоне ускоряющих напряжений 1–30 кВ и высочайшую контрастность изображения.
Его непревзойденная работа при низких ускоряющих напряжениях обеспечивает получение точных данных о структуре поверхности, недоступных при использовании других методов. Максимальная разрешающая способность достигает 0.6 нм.
Микроскоп Verios абсолютно незаменим при производстве полупроводников и устройств хранения данных. Существенно расширяя возможности стандартных SEM, этот прибор позволяет работать с нано-узлами, что превращает его в комплексное решение для теоретических исследований, управления технологическими процессами, создания материалов, задач фрактографии, анализа дефектов.
Характеристики
Тип микроскопа | сканирующий |
Тип образцов | металлы, микроэлектроника, минералы, непроводящие |
Разрешение от, нм | 0.6 |
Разрешение до, нм | 0.7 |
Область сканирования от, мм | 0 |
Область сканирования до, мм | 100 |
Разрешение электронной пушки при оптимальном рабочем расстоянии | от 0,6 до 1,2 нм |
Максимальная ширина горизонтального поля зрения | электронный пучок: 2,0 мм при рабочем расстоянии 4 мм |
Диапазон контактной энергии | от 20 В до 30 кВ |
Ток зонда | электронный пучок: от 0,8 пА до 100 нA |
Предметный столик | 5-осевой предметный столик сверхвысокой точности с пьезоэлектрическим приводом |
Перемещение по осям X, Y | 100 мм |
Перемещение по оси Z | ≥ 20 мм |
T (наклон) | от –10° до +60° |
R (вращение) | n x 360° ход |
Воспроизводимость по осям X, Y | 0,5 мкм |
Точность X, Y | 1,5 мкм |
Допустимый интервал | 85 % |
Смещение изображения | менее 5 мкм при наклоне 0–52° |
Управление вращением и наклоном | ПК |
Вес рабочей камеры | 200 г |
Максимальный размер образца | диаметр 100 мм с возможностью полного вращения |
Максимальная толщина образца (включая держатель) | через загрузочный шлюз: 19 мм, через дверь камеры: 27,8 мм |
Детекторы | внутрилинзовые детекторы Elstar (TLD-SE и TLD-ВSE), внутриколонные детекторы Elstar (TLD-SE и MD), детектор вторичных электронов Верхарта — Торнли (ETD), ИК-камера для визуального осмотра образца/колонны |
Вакуумная система | 1 x 210 л/с турбомолекулярный насос; 1 x PVP предвакуумный насос; 2 x IGP геттерно-ионных насоса |
Вакуум в камере | 2,6 * 10-6 мбар (через 24 часа откачки) |
Время получения изображений | 0,025–25 000 мкс/пиксель |
Размер изображения | до 6144 x 4096 пикселей |
Формат изображения | TIFF (8, 16, 24-битный), BMP или JPEG |
Тип изображения | однокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах |
Управление системой | 32-битный графический пользовательский интерфейс на базе Windows® ХР |
Характеристики | |
Размер изображения | до 6144 x 4096 пикселей |
Регистрационное удостоверение | Да |
Тип микроскопа | cканирующий |
Формат изображения | TIFF (8, 16, 24-битный), BMP или JPEG |