• Артикул:
    316654
  • Размер изображения:
    до 6144 x 4096 пикселей
  • Регистрационное удостоверение:
    Да
  • Тип микроскопа:
    cканирующий
  • Формат изображения:
    TIFF (8, 16, 24-битный), BMP или JPEG
  • Показать все характеристики
ЦЕНА ПО ЗАПРОСУ
Оснащаем под ключ!

Сотрудничаем со строительными организациями, архитекторами и проектировщиками, ЛПУ санаториями. Быстрая обработка запроса. Выделяем персонального менеджера для работы с Вашим проектом.

Ключевые характеристики

Сканирующий электронный микроскоп Verios обеспечивает субнанометровое разрешение в диапазоне ускоряющих напряжений 1–30 кВ и высочайшую контрастность изображения.

Его непревзойденная работа при низких ускоряющих напряжениях обеспечивает получение точных данных о структуре поверхности, недоступных при использовании других методов. Максимальная разрешающая способность достигает 0.6 нм.

Микроскоп Verios абсолютно незаменим при производстве полупроводников и устройств хранения данных. Существенно расширяя возможности стандартных SEM, этот прибор позволяет работать с нано-узлами, что превращает его в комплексное решение для теоретических исследований, управления технологическими процессами, создания материалов, задач фрактографии, анализа дефектов.

Характеристики

Тип микроскопасканирующий
Тип образцовметаллы, микроэлектроника, минералы, непроводящие
Разрешение от, нм0.6
Разрешение до, нм0.7
Область сканирования от, мм0
Область сканирования до, мм100
Разрешение электронной пушки при оптимальном рабочем расстоянииот 0,6 до 1,2 нм
Максимальная ширина горизонтального поля зренияэлектронный пучок: 2,0 мм при рабочем расстоянии 4 мм
Диапазон контактной энергииот 20 В до 30 кВ
Ток зондаэлектронный пучок: от 0,8 пА до 100 нA
Предметный столик5-осевой предметный столик сверхвысокой точности с пьезоэлектрическим приводом
Перемещение по осям X, Y100 мм
Перемещение по оси Z≥ 20 мм
T (наклон)от –10° до +60°
R (вращение)n x 360° ход
Воспроизводимость по осям X, Y0,5 мкм
Точность X, Y1,5 мкм
Допустимый интервал85 %
Смещение изображенияменее 5 мкм при наклоне 0–52°
Управление вращением и наклономПК
Вес рабочей камеры200 г
Максимальный размер образцадиаметр 100 мм с возможностью полного вращения
Максимальная толщина образца (включая держатель)через загрузочный шлюз: 19 мм, через дверь камеры: 27,8 мм
Детекторывнутрилинзовые детекторы Elstar (TLD-SE и TLD-ВSE), внутриколонные детекторы Elstar (TLD-SE и MD), детектор вторичных электронов Верхарта — Торнли (ETD), ИК-камера для визуального осмотра образца/колонны
Вакуумная система1 x 210 л/с турбомолекулярный насос; 1 x PVP предвакуумный насос; 2 x IGP геттерно-ионных насоса
Вакуум в камере2,6 * 10-6 мбар (через 24 часа откачки)
Время получения изображений0,025–25 000 мкс/пиксель
Размер изображениядо 6144 x 4096 пикселей
Формат изображенияTIFF (8, 16, 24-битный), BMP или JPEG
Тип изображенияоднокадровое изображение или изображение в четырёх квадрантах
Управление системой32-битный графический пользовательский интерфейс на базе Windows® ХР
Характеристики
Размер изображения до 6144 x 4096 пикселей
Регистрационное удостоверение Да
Тип микроскопа cканирующий
Формат изображения TIFF (8, 16, 24-битный), BMP или JPEG