Сотрудничаем со строительными организациями, архитекторами и проектировщиками, ЛПУ санаториями. Быстрая обработка запроса. Выделяем персонального менеджера для работы с Вашим проектом.
- Артикул:316650
- 0
- Наклон:-15° / +90°
- Поворот:n x 360°
- Регистрационное удостоверение:Да
- Тип микроскопа:двухлучевая система
- Показать все характеристики
Ключевые характеристики
В универсальной двухлучевой системе Scios 2 применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
Разработанный для повышения производительности, точности сбора данных и простоты эксплуатации, микроскоп Scios 2 — это инновационный прибор, идеально подходящий, как для рутинной так и для углублённой исследовательской работы в научных лабораториях, госструктурах и корпоративных отделах НИОКР.
Характеристики
В универсальной двухлучевой системе Scios 2 применяется аналитическая двулучевая технология сверхвысокого разрешения DualBeam™, обеспечивающая выдающиеся эксплуатационные характеристики при двухмерном и трёхмерном анализе широкого диапазона образцов, включая магнитные материалы.
Разработанный для повышения производительности, точности сбора данных и простоты эксплуатации, микроскоп Scios 2 — это инновационный прибор, идеально подходящий, как для рутинной так и для углублённой исследовательской работы в научных лабораториях, госструктурах и корпоративных отделах НИОКР.
Характеристики
| Тип микроскопа | двухлучевая система |
| Тип образцов | металлы, микроэлектроника, минералы, непроводящие |
| Разрешение от, нм | 0,8 |
| Разрешение до, нм | 30 |
| Область сканирования от, мм | 0 |
| Область сканирования до, мм | 150 |
| Электронная пушка | высокоустойчивая автоэмиссионная пушка Шоттки |
| Срок службы источника электронов | 12 месяцев |
| Установка и обслуживание пушки | автоматический прогрев, автоматический запуск, отсутствие потребности в механической регулировке положения |
| Апертуры | автоматизированные нагреваемые |
| Линза | с двойным объективом, сочетающая электромагнитные и электростатические линзы, 60° |
| Источник ионов | жидкометаллический галлиевый источник ионов с высокой плотностью тока |
| Срок службы источника ионов | гарантируется 1 300 часов/2 600 мкА |
| Ускоряющее напряжение | от 500 В до 30 кВ |
| Ток зонда | от 0,6 пА до 65 нA, 15 ступеней |
| Апертурная полоса | 15 положений |
| Увеличение | 40×-1,28Mх в зависимости от светофильтра |
| Режим подавления смещения | входит в стандартную комплектацию для непроводящих образцов |
| Формирование изображения | в высоком вакууме |
| Оптимальное рабочее расстояние | 3,0 нм (статистика на основе свыше 50 кромок); 5,0 нм (статистика на основе свыше 1000 кромок) |
| Максимальная ширина горизонтального поля | 4,0 мм при рабочем расстоянии 7 мм (соответствует минимальному увеличению до 30x в квадрантном виде) |
| Предметный столик | Вцентрический гониометрический высокоточный моторизованный по 5 осям предметный столик |
| Перемещение в плоскости XY | 110×110 мм |
| Моторизованное перемещение по оси Z | 65 мм |
| Поворот | n x 360° |
| Наклон | −15° / +90° |
| Максимальная высота образца | расстояние 85 мм до точки Вцентрика |
| Максимальный вес образца | 500 г при любом положении предметного столика (до 2 кг при наклоне 0°) |
| Максимальный размер образца | Ø120 мм при полном вращении (для образцов большего размера вращение ограничено) |
| Характеристики | |
| Наклон | -15° / +90° |
| Поворот | n x 360° |
| Регистрационное удостоверение | Да |
| Тип микроскопа | двухлучевая система |