Сотрудничаем со строительными организациями, архитекторами и проектировщиками, ЛПУ санаториями. Быстрая обработка запроса. Выделяем персонального менеджера для работы с Вашим проектом.
- Артикул:319512
- 0
- Регистрационное удостоверение:Да
- Показать все характеристики
TIMA – это автоматизированная система для проведения быстрого минералогического анализа проб горных пород, руд, концентратов, хвостов, результатов выщелачивания, разноов с помощью программного обеспечения EDAX Quantitative. Программное обеспечение TIMA обладает рядом уникальных функций, включая запатентованный алгоритм обработки спектров, что позволяет усовершенствовать идентификацию минералов и улучшить выявление элементов, которые содержатся в минералах в малых концентрациях.
Для производственных задач, где требуется высокая пропускная способность, система TIMA может быть оснащена автозагрузчиком (AutoLoader™) – роботизированной системой загрузки образцов для поддержания круглосуточного автоматизированного анализа проб в режиме 24/7 (100 слотов для загрузки эпоксидных шайб). Автозагрузчик увеличивает производительность работы TIMA, превращая минералогический анализ партий образцов в непрерывный процесс анализа, при котором не требуется менять образцы ручным способом и не требуется периодически напускать/откачивать вакуумную камеру микроскопа для замены образцов.
TIMA – это система, созданная специально для горно-добывающей и горно-перерабатывающей промышленности, а также для институтов соответствующего профиля. TIMA — это одновременно как гибкий исследовательский инструмент для академических минералогических исследований, так и прибор автоматизированного контроля в режиме 24/7 для повышения эффективности технологических циклов.
Модели микроскопов TESCAN TIMA называются TIMA LMS, TIMA LMU, TIMA GMS, TIMA GMU в зависимости от размера камеры и наличия режима низкого вакуума (подробнее во вкладке «Характеристики»).
Режим высокого вакуума SE-детекторВакуум в камере образцов
Время откачки после замены образцов
2Доступен только для версий LMU/GMU
3Необходима активная система виброизоляции
4Для камеры GM необходима модификация держателя образцов
Аксессуары TIMA
Для производственных задач, где требуется высокая пропускная способность, система TIMA может быть оснащена автозагрузчиком (AutoLoader™) – роботизированной системой загрузки образцов для поддержания круглосуточного автоматизированного анализа проб в режиме 24/7 (100 слотов для загрузки эпоксидных шайб). Автозагрузчик увеличивает производительность работы TIMA, превращая минералогический анализ партий образцов в непрерывный процесс анализа, при котором не требуется менять образцы ручным способом и не требуется периодически напускать/откачивать вакуумную камеру микроскопа для замены образцов.
TIMA – это система, созданная специально для горно-добывающей и горно-перерабатывающей промышленности, а также для институтов соответствующего профиля. TIMA — это одновременно как гибкий исследовательский инструмент для академических минералогических исследований, так и прибор автоматизированного контроля в режиме 24/7 для повышения эффективности технологических циклов.
Модели микроскопов TESCAN TIMA называются TIMA LMS, TIMA LMU, TIMA GMS, TIMA GMU в зависимости от размера камеры и наличия режима низкого вакуума (подробнее во вкладке «Характеристики»).
Ключевые особенности системы TIMA
- Система TIMA создана на основе сканирующего электронного микроскопа TESCAN MIRA с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки.
- TIMA выпускается с двумя типоразмерами камеры образцов, отличающимися количеством образцов, которые можно разместить за одну загрузку камеры: стандартная с маркировкой LM и большая с маркировкой GM.
- Инсталлируется вплоть до четырёх встроенных энергодисперсионных спектрометров (EDS) для увеличения производительности системы, характеристики EDS:
- – детекторы типа SDD с охлаждением Пельтье;
– кристалл нового поколения диаметром 30 мм2, изготовленный по CMOS-технологии, расположенный внутри герметичной вакуумной области;
– окно спектрометра из прочного, непористого нитрида кремния Si3N4, обладающее высокой пропускной способностью;
– улучшенная чувствительность к фотонам низких энергий, что повышает эффективность регистрации легких элементов. - Съемные держатели образцов, в которых предусмотрено место для зафиксиронных в вакуумной камере стандартов для калибровки BSE-детектора и EDS-спектрометров и цилиндра Фарадея, что позволяет поддерживать высокую автоматизацию, точность и воспроизводимость измерений. Примечание: BSE — это back scattered electrons, сигнал обратно отражённых электронов, BSE-детектор — это основной детектор для получения электронных изображений. EDS — это energy dispersive spectrometer, энергодисперсионный спектрометр для определения элементных составов зёрен.
- Несколько стандартных держателей образцов и изготовляемые на заказ держатели для образцов разных форм и размеров.
- Помимо обязательного в процессе TIMA-сканирования накопления BSE-изображений и EDS-спектров опционально возможно синхронное накопление сигнала вторичных электронов (SE) и сигнала катодолюминесценции (CL).
- Есть совместимый с TIMA полнофункциональный количественный рентгеноспектральный микроанализ с использованием стандартов в программном обеспечении EDAX Quantitative.
- Возможна установка на камеру TIMA опциональных детекторов: катодолюминесцентного детектора, волнодисперсионного спектрометра, рамановского спектрометра.
- с катодом Шоттки высокой яркости
Режим высокого вакуума SE-детектор
- 1.2 нм при 30 кэВ
- 1.5 нм при 15 кэВ
- 2.5 нм при 3 кэВ
- 4.5 нм при 1 кэВ
- 2.0 нм при 30 кэВ
- 1.0 нм при 30 кэВ
- 1.2 нм при 15 кэВ
- 2.0 нм при 3 кэВ
- 3.5 нм при 1 кэВ
- 2.0 нм при 15 кэВ
- 2 нм при 30 кэВ, детектор BSE
- 1.5 нм при 30 кэВ, детектор LVSTD *
- 3 нм при 3 кэВ, детектор LVSTD *
Энергия приземления пучка электронов
- От 200 эВ до 30 кэВ
Ток пучка
- От 2 пА до 400 нА
Увеличение при 30 кэВ
- 2 × – 1 000 000 ×
Максимальное поле обзора
- 9.8 мм при WD = 15 мм (аналитическое рабочее расстояние)
- > 50 мм при максимальном WD
Вакуумная система
Вакуум в камере образцов
- Режим высокого вакуума HighVac™: < 9 · 10-3 Па* (TIMA LMS и TIMA GMS работают только режиме HighVac™)
- Режим низкого вакуума UniVac™: 1 - 700 Па** (присутствует в TIMA LMU и TIMA GMU)
Время откачки после замены образцов
- < 3 минут (LM камера)
- < 3.5 минут (GM камера)
Вакуумная камера и столик образцов
Тип камеры | LM | LM с автозагрузчиком | GM |
Внутренние размеры | ø 230 мм | ø 230 мм | 340 мм (ширина) х 315 мм (глубина) |
Дверца камеры | 148 мм (ширина) | 148 мм (ширина) | 340 мм (ширина) х 320 мм (высота) |
Количество портов (+ количество портов может быть изменено под задачи заказчика): | 13+ | 12+ | 20+ |
Столик образцов | Компуцентрический, моторизованный по всем осям | ||
Диапазон перемещений столика (диапазон перемещений зависит от WD и конфигурации установленных детекторов) | X = 79 мм (-25 мм ... +54 мм) Y = 29 мм (-14.5 мм ... +14.5 мм) Z = 29 мм | X = 79 мм (-39.5 мм ... +39.5 мм) Y = 59 мм (-29.5 мм ... +29.5 мм) Z = 19 мм | X = 130 мм (-65 мм ... +65 мм) Y = 130 мм (-65 мм ... +65 мм) Z = 100 мм |
Вращение | 360° непрерывное, компуцентрическое | ||
Держатель образцов | Стандартно:• У каждого держателя предусмотрено место для зафиксированного внутри вакуумной камеры цилиндра Фарадея и встроенных стандартов для калибровки BSE/EDS • Два 7-ми позиционных держателя для эпоксидных шайб ø 30 мм Опционально: • Дополнительный 7-ми позиционный держатель для эпоксидных шайб ø 30 мм • 2-х позиционный держатель для прозрачно-полированных шлифов 27 × 47 мм • Кольцо-переходник для шайб меньшего диаметра ø 25 мм • 20-ти позиционный держатель для стандартных для СЭМ бесформенных образцов на пьедесталах ø 12.5 мм | Стандартно:• У каждого держателя предусмотрено место для зафиксированного внутри вакуумной камеры цилиндра Фарадея и встроенных стандартов для калибровки BSE/EDS • Два сменных картриджа для посадки одной эпоксидной шайбы ø 30 мм Опционально: • Два сменных картриджа и конвейерные кольца-переходники для эпоксидных шайб ø 25 мм | Стандартно:• У каждого держателя предусмотрено место для зафиксированного внутри вакуумной камеры цилиндра Фарадея и встроенных стандартов для калибровки BSE/EDS • Два 15-ти позиционных держателя для эпоксидных шайб ø 30 мм Опционально: • Дополнительный 15-ти позиционный держатель для эпоксидных шайб ø 30 мм • 9-ти позиционный держатель для прозрачно-полированных шлифов 27 × 47 мм • Кольцо-переходник для шайб меньшего диаметра ø 25 мм • 22-х позиционный держатель для эпоксидных шайб ø 25 мм |
* – опционально
Детекторы TIMA
- Внутрикамерный детектор вторичных электронов типа Эверхарта-Торнли (SE)
- Выдвижной детектор отражённых электронов сцинтилляционного типа (R-BSE)1
- Встроенный в колонну детектор вторичных электронов (In-Beam SE)
- Встроенный в колонну детектор отраженных электронов (In-Beam BSE)
- Встроенный в колонну детектор отраженных электронов, чувствительный в том числе в области низких энергий первичного пучка (LE In-Beam BSE)
- Детектор вторичных электронов для работы в режиме низкого вакуума (LVSTD)2
- Компактный панхроматический детектор катодолюминесцентного излучения (Compact CL)
- Компактный детектор цветной катодолюминесценции (Rainbow CL Compact)
- Детектор отраженных электронов сцинтилляционного типа с Al-покрытием для одновременного детектирования BSE- и катодолюминесцентного излучения (Al-BSE)1
- EDS – энергодисперсионный спектрометр стороннего производителя
- WDS – волнодисперсионный спектрометр стороннего производителя3,4
2Доступен только для версий LMU/GMU
3Необходима активная система виброизоляции
4Для камеры GM необходима модификация держателя образцов
Аксессуары TIMA
- Опциональные аксессуары
- Измеритель поглощенного тока
- Датчик касания
- Инфракрасная камера обзора
- Контрольная панель
Характеристики EDS-детекторов
- до 4-х кремний-дрейфовых детекторов
- Тип кристалла: технология CMOS
- Размер кристалла ЭДС-детектора 30 мм2
- Окно ЭДС-детектора из нитрида кремния Si3N4 толщиной менее 100 нм
- Спектральное разрешение 129 эВ на линии Mn Kα
- 10 эВ/канал
- Диапазон детектируемых элементов от Be до Am
- Система охлаждения - элемент Пельтье
- Максимальная входная скорость счета для каждого детектора: до 1 000 000 имп/сек.
- Аналитическое рабочее расстояние 15 мм
- Угол наклона 35°
- Требования к окружающей среде: температура от 5° до 50°; влажность 20-80% без образования конденсата
Характеристики | |
Регистрационное удостоверение | Да |