ЦЕНА ПО ЗАПРОСУ
Оснащаем под ключ!

Сотрудничаем со строительными организациями, архитекторами и проектировщиками, ЛПУ санаториями. Быстрая обработка запроса. Выделяем персонального менеджера для работы с Вашим проектом.

TIMA – это автоматизированная система для проведения быстрого минералогического анализа проб горных пород, руд, концентратов, хвостов, результатов выщелачивания, разноов с помощью программного обеспечения EDAX Quantitative. Программное обеспечение TIMA обладает рядом уникальных функций, включая запатентованный алгоритм обработки спектров, что позволяет усовершенствовать идентификацию минералов и улучшить выявление элементов, которые содержатся в минералах в малых концентрациях.

Для производственных задач, где требуется высокая пропускная способность, система TIMA может быть оснащена автозагрузчиком (AutoLoader™) – роботизированной системой загрузки образцов для поддержания круглосуточного автоматизированного анализа проб в режиме 24/7 (100 слотов для загрузки эпоксидных шайб). Автозагрузчик увеличивает производительность работы TIMA, превращая минералогический анализ партий образцов в непрерывный процесс анализа, при котором не требуется менять образцы ручным способом и не требуется периодически напускать/откачивать вакуумную камеру микроскопа для замены образцов.

TIMA – это система, созданная специально для горно-добывающей и горно-перерабатывающей промышленности, а также для институтов соответствующего профиля. TIMA — это одновременно как гибкий исследовательский инструмент для академических минералогических исследований, так и прибор автоматизированного контроля в режиме 24/7 для повышения эффективности технологических циклов.

Модели микроскопов TESCAN TIMA называются TIMA LMS, TIMA LMU, TIMA GMS, TIMA GMU в зависимости от размера камеры и наличия режима низкого вакуума (подробнее во вкладке «Характеристики»).

Ключевые особенности системы TIMA

  • Система TIMA создана на основе сканирующего электронного микроскопа TESCAN MIRA с катодом с полевой эмиссией типа Шоттки.
  • TIMA выпускается с двумя типоразмерами камеры образцов, отличающимися количеством образцов, которые можно разместить за одну загрузку камеры: стандартная с маркировкой LM и большая с маркировкой GM.
  • Инсталлируется вплоть до четырёх встроенных энергодисперсионных спектрометров (EDS) для увеличения производительности системы, характеристики EDS: 
  •       –  детекторы типа SDD с охлаждением Пельтье; 
          –  кристалл нового поколения диаметром 30 мм2, изготовленный по CMOS-технологии, расположенный внутри герметичной вакуумной области; 
          –  окно спектрометра из прочного, непористого нитрида кремния Si3N4, обладающее высокой пропускной способностью; 
          –  улучшенная чувствительность к фотонам низких энергий, что повышает эффективность регистрации легких элементов.
  • Съемные держатели образцов, в которых предусмотрено место для зафиксиронных в вакуумной камере стандартов для калибровки BSE-детектора и EDS-спектрометров и цилиндра Фарадея, что позволяет поддерживать высокую автоматизацию, точность и воспроизводимость измерений. Примечание: BSE — это back scattered electrons, сигнал обратно отражённых электронов, BSE-детектор — это основной детектор для получения электронных изображений. EDS — это energy dispersive spectrometer, энергодисперсионный спектрометр для определения элементных составов зёрен.
  • Несколько стандартных держателей образцов и изготовляемые на заказ держатели для образцов разных форм и размеров.
  • Помимо обязательного в процессе TIMA-сканирования накопления BSE-изображений и EDS-спектров опционально возможно синхронное накопление сигнала вторичных электронов (SE) и сигнала катодолюминесценции (CL).
  • Есть совместимый с TIMA полнофункциональный количественный рентгеноспектральный микроанализ с использованием стандартов в программном обеспечении EDAX Quantitative.
  • Возможна установка на камеру TIMA опциональных детекторов: катодолюминесцентного детектора, волнодисперсионного спектрометра, рамановского спектрометра.
Электронная колонна
  • с катодом Шоттки высокой яркости
Разрешение электронной колонны

Режим высокого вакуума SE-детектор
  • 1.2 нм при 30 кэВ
  • 1.5 нм при 15 кэВ
  • 2.5 нм при 3 кэВ
  • 4.5 нм при 1 кэВ
Режим высокого вакуума BSE-детектор
  • 2.0 нм при 30 кэВ
Режим высокого вакуума In-beam SE*
  • 1.0 нм при 30 кэВ
  • 1.2 нм при 15 кэВ
  • 2.0 нм при 3 кэВ
  • 3.5 нм при 1 кэВ
Режим высокого вакуума In-beam BSE* 
  • 2.0 нм при 15 кэВ
Режим низкого вакуума* 
  • 2 нм при 30 кэВ, детектор BSE
  • 1.5 нм при 30 кэВ, детектор LVSTD *
  • 3 нм при 3 кэВ, детектор LVSTD *

Энергия приземления пучка электронов

  • От 200 эВ до 30 кэВ

Ток пучка

  • От 2 пА до 400 нА

Увеличение при 30 кэВ

  • 2 × – 1 000 000 ×

Максимальное поле обзора

  • 9.8 мм при WD = 15 мм (аналитическое рабочее расстояние)
  • > 50 мм при максимальном WD

Вакуумная система

Вакуум в камере образцов
  • Режим высокого вакуума HighVac™: < 9 · 10-3 Па* (TIMA LMS и TIMA GMS работают только режиме HighVac™)
  • Режим низкого вакуума UniVac™: 1 - 700 Па** (присутствует в TIMA LMU и TIMA GMU)
* при наличии опционального вакуумного датчика может быть достигнуто давление < 510-4 Па** с установкой апертуры для режима низкого вакуума

Время откачки после замены образцов
  • < 3 минут (LM камера)
  • < 3.5 минут (GM камера)

Вакуумная камера и столик образцов

Тип камерыLMLM с автозагрузчиком GM
Внутренние размерыø 230 ммø 230 мм340 мм (ширина) х 315 мм (глубина)
Дверца камеры148 мм (ширина)148 мм (ширина)340 мм (ширина) х 320 мм (высота)
Количество портов
(+ количество портов может быть изменено под задачи заказчика):
13+12+20+
Столик образцовКомпуцентрический, моторизованный по всем осям
Диапазон перемещений столика
(диапазон перемещений зависит от WD и конфигурации установленных детекторов)
X = 79 мм (-25 мм ... +54 мм)
Y = 29 мм (-14.5 мм ... +14.5 мм)
Z = 29 мм
X = 79 мм (-39.5 мм ... +39.5 мм)
Y = 59 мм (-29.5 мм ... +29.5 мм)
Z = 19 мм
X = 130 мм (-65 мм ... +65 мм)
Y = 130 мм (-65 мм ... +65 мм)
Z = 100 мм
Вращение360° непрерывное, компуцентрическое
Держатель образцовСтандартно:• У каждого держателя предусмотрено место для зафиксированного внутри вакуумной камеры цилиндра Фарадея и встроенных стандартов для калибровки BSE/EDS
• Два 7-ми позиционных держателя для эпоксидных шайб ø 30 мм
Опционально:
• Дополнительный 7-ми позиционный держатель для эпоксидных шайб ø 30 мм
• 2-х позиционный держатель для прозрачно-полированных шлифов 27 × 47 мм
• Кольцо-переходник для шайб меньшего диаметра ø 25 мм
• 20-ти позиционный держатель для стандартных для СЭМ бесформенных образцов на пьедесталах ø 12.5 мм
Стандартно:• У каждого держателя предусмотрено место для зафиксированного внутри вакуумной камеры цилиндра Фарадея и встроенных стандартов для калибровки BSE/EDS
• Два сменных картриджа для посадки одной эпоксидной шайбы ø 30 мм
Опционально:
• Два сменных картриджа и конвейерные кольца-переходники для эпоксидных шайб ø 25 мм
Стандартно:• У каждого держателя предусмотрено место для зафиксированного внутри вакуумной камеры цилиндра Фарадея и встроенных стандартов для калибровки BSE/EDS
• Два 15-ти позиционных держателя для эпоксидных шайб ø 30 мм
Опционально:
• Дополнительный 15-ти позиционный держатель для эпоксидных шайб ø 30 мм
• 9-ти позиционный держатель для прозрачно-полированных шлифов 27 × 47 мм
• Кольцо-переходник для шайб меньшего диаметра ø 25 мм
• 22-х позиционный держатель для эпоксидных шайб ø 25 мм

* – опционально

Детекторы TIMA

  • Внутрикамерный детектор вторичных электронов типа Эверхарта-Торнли (SE)
  • Выдвижной детектор отражённых электронов сцинтилляционного типа (R-BSE)1
  • Встроенный в колонну детектор вторичных электронов (In-Beam SE)
  • Встроенный в колонну детектор отраженных электронов (In-Beam BSE) 
  • Встроенный в колонну детектор отраженных электронов, чувствительный в том числе в области низких энергий первичного пучка (LE In-Beam BSE)
  • Детектор вторичных электронов для работы в режиме низкого вакуума (LVSTD)2
  • Компактный панхроматический детектор катодолюминесцентного излучения (Compact CL)
  • Компактный детектор цветной катодолюминесценции (Rainbow CL Compact) 
  • Детектор отраженных электронов сцинтилляционного типа с Al-покрытием для одновременного детектирования BSE- и катодолюминесцентного излучения (Al-BSE)1
  • EDS – энергодисперсионный спектрометр стороннего производителя
  • WDS – волнодисперсионный спектрометр стороннего производителя3,4
1Моторизованный в качестве опции (в камерах GM стандартно моторизован)
2Доступен только для версий LMU/GMU

3Необходима активная система виброизоляции
4Для камеры GM необходима модификация держателя образцов

Аксессуары TIMA
  • Опциональные аксессуары
  • Измеритель поглощенного тока
  • Датчик касания
  • Инфракрасная камера обзора
  • Контрольная панель

Характеристики EDS-детекторов

  • до 4-х кремний-дрейфовых детекторов
  • Тип кристалла: технология CMOS
  • Размер кристалла ЭДС-детектора 30 мм2
  • Окно ЭДС-детектора из нитрида кремния Si3N4 толщиной менее 100 нм
  • Спектральное разрешение 129 эВ на линии Mn Kα
  • 10 эВ/канал
  • Диапазон детектируемых элементов от Be до Am
  • Система охлаждения - элемент Пельтье
  • Максимальная входная скорость счета для каждого детектора: до 1 000 000 имп/сек.
  • Аналитическое рабочее расстояние 15 мм
  • Угол наклона 35°
  • Требования к окружающей среде: температура от 5° до 50°; влажность 20-80% без образования конденсата
Характеристики
Регистрационное удостоверение Да

Похожие товары