Сотрудничаем со строительными организациями, архитекторами и проектировщиками, ЛПУ санаториями. Быстрая обработка запроса. Выделяем персонального менеджера для работы с Вашим проектом.
- Артикул:316643
- 0
- Размер изображения:456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048
- Регистрационное удостоверение:Да
- Тип микроскопа:cканирующий
- Формат изображения:JPEG, TIFF, BMP
- Показать все характеристики
Ключевые характеристики
Phenom Pharos — сканирующий электронный микроскоп с источником полевой эмиссии с катодом Шоттки, детекторами SE, BSE и EDS микроанализом.
Максимальное увеличение 1 000 000 х; разрешение < 3 нм; ускоряющее напряжение от 2 до 15 кВ.
Данный настольный СЭМ является уникальной моделью, вобравшей в себя все плюсы источника с полевой эмиссией и простоты работы с настольными СЭМ Phenom. Время откачки составляет всего 25 секунд.
Характеристики
Phenom Pharos — сканирующий электронный микроскоп с источником полевой эмиссии с катодом Шоттки, детекторами SE, BSE и EDS микроанализом.
Максимальное увеличение 1 000 000 х; разрешение < 3 нм; ускоряющее напряжение от 2 до 15 кВ.
Данный настольный СЭМ является уникальной моделью, вобравшей в себя все плюсы источника с полевой эмиссией и простоты работы с настольными СЭМ Phenom. Время откачки составляет всего 25 секунд.
Характеристики
| Тип микроскопа | cканирующий |
| Тип образцов | влажные, металлы, микроэлектроника, минералы, непроводящие |
| Разрешение от, нм | 3 |
| Разрешение до, нм | 14 |
| Область сканирования от, мм | 0 |
| Область сканирования до, мм | 25 |
| Оптическая камера | увеличение 20 х -135 х, цветная |
| Цифровой зум | до 12 х |
| Загрузка образца | оптическое изображение через 5 секунд после загрузки, электронное изображение — через 30 секунд |
| Катод электронной пушки | c полевой эмиссией FEG |
| Ускоряющее напряжение | 5 кВ, 10 кВ, 15 кВ |
| Разрешение | < 3 нм |
| Увеличение | 1 000 000 x |
| Расширенный режим | позволяет устанавливать ускоряющее напряжение в диапазоне от 2 кВ −15 кВ |
| Предметный столик (стандартный комплект) | образцы диаметром до 25 мм и высотой до 30 мм |
| Дополнительные опции предметного столика | максимальный размер образцов: диаметром до 32 мм и высотой до 100 мм; держатели для наклона, поворота, нагрева, охлаждения |
| Рабочая камера | нет |
| Детекторы | высокочувствительный сегментированный на четыре квадранта детектор обратно рассеянных электронов (композиционный и топографический режимы); детектор вторичных электронов. |
| Дополнительные аналитические возможности | энергодисперсионный микроанализатор (кремниевый дрейфовый детектор), термическое охлаждение без жидкого азота |
| Управление системой | интерфейс на базе ПО Phenom; монитор 19″, поворотно-нажимная кнопка управления; доп. монитор, клавиатура, мышь, для управления программным комплексом для микроанализа |
| Формат изображения | JPEG, TIFF, BMP |
| Размер изображения | 456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048 |
| Программный модуль | Pro Sute |
| Требования по установке | нет |
| Характеристики | |
| Размер изображения | 456×456, 684×684, 1024×1024, 2048×2048 |
| Регистрационное удостоверение | Да |
| Тип микроскопа | cканирующий |
| Формат изображения | JPEG, TIFF, BMP |